行业概述
呆板视觉在半导体行业的使用已十分广泛,使用范畴也越来越广,触及到半导体表面缺陷、尺寸巨细、数目、平整度、距离、定位、校准、焊点质量、弯曲度等等的检测和丈量。
检测内容包罗:
电子元器件表面检测、SMD产品的表面检测、硅片表面检测、IC芯片、电子链接器平整度检测等。
打光难点:
产品情势多样、检测精度高、由于质料与工艺等缘故原由产品自己特性不太分明,因而对打光的要求比力高。
检测内容:晶体板内晶格有无检测利用光源:点光源剖析:用点光源和显微镜头拍摄显微晶元图像特性呈黑,配景...[检察概况]
检测目标:LED针脚间距丈量检测内容:LED针脚间距丈量参考光源:HFL-50-50-W剖析: 用面光源反面照射,将LE...[检察概况]
检测内容:塑胶镭射字符成像实例利用光源:环形光源剖析:利用环形光照射,字符与配景比拟不分明。利用光源...[检察概况]
检测内容:太阳能电池检测 利用光源:条形光源剖析:[检察概况]
检测内容:硅片脏污检测 利用光源:四边可调光源剖析:[检察概况]